電子工学センター、パネル傷検査装置改良
検査速度を向上
情報・通信のシステム開発を行う電子工学センター(神奈川県川崎市、中村義治社長)はこのほど、太陽光パネルの裏面電極のクラックを検知する探査装置を改良した。
より短時間でクラックの探査ができるように、傷の大きさが5㎝以上の場合のみ、音を変えて通知する機能を追加し、機器の下背面にLEDランプとブザースピーカーを搭載した。高速モードでは、1枚あたり10~20秒程度で検査できるという。中村幸央取締役経営管理本部長は、「現場からの要望を受けて改良に至った」と語る。
パネルに高周波電流を流し、磁力線の乱れを検知すると、ランプが点灯し、音が鳴る仕組みで、パネル上で機器をスライドさせて検査する。検査できるパネルは、主に単結晶と多結晶で、機器は単3電池4本で10時間稼働するという。
中村取締役は「外部電源、パネルの取り外しが不要なので、EL検査の前や、リユースパネルの選別など簡易検査として提案したい」と語る。検査機器の市場価格は40万円としている。