何が太陽電池を殺すのか

［太陽電池編］

独PID試験に表れたシャープ、京セラの設計思想

2012年08月号
特集

太陽電池モジュールの長期信頼性が取り沙汰されるなか、今年6月、独フランホーファー研究機構が実施した耐PID（＝Potential Induced Degradation）試験の結果がミュンヘンで開催された展示会場で公開された。検査対象の主要モジュールメーカー13社の製品うち、9製品に出力低下が発生したが、国内のシャープと京セラの製品には異常が認められなかった。シャープ、京セラが志向するモジュールの長期信頼性とは何か、両社の設計思想に迫った。

太陽電池モジュールの長期耐久性を技術的に担保するには、メーカーはどのような設計思想を持つべきか。シャープ・ソーラーシステム事業本部品質環境統轄の吉岡秀起氏はこう語った。

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